4/10/2023，光纖在線訊，#01了解無源器件測試的三個關鍵參數(shù):IL、RL、PDL。插損（IL）是在鑒定無源器件時需要測量的基本參數(shù)。大多數(shù)器件特性都通過測量插損獲得，這些特性包括損耗、中心波長、紋波、帶寬、相鄰和非相鄰通道隔離度。

回損（RL）可鑒定從被測設備（DUT）反射到某個給定端口（輸入或輸出端口）的光量。

🔍下圖為IL/RL測量配置



偏振相關損耗（PDL）用于鑒定在偏振態(tài)發(fā)生變化時，插損的最大變化量。

🔍下表給出了兩種不同的測量方法



#02使用高采樣分辨率快速、掃頻測量

使用連續(xù)可調諧激光器和快速光檢測器/功率計在波長掃描期間同步采集波長和功率數(shù)據(jù)，可在幾秒內以皮米級波長分辨率完成光譜鑒定。這是在需要測試的 DUT 數(shù)量較多時的理想選擇。



用例1：微環(huán)諧振腔

基于PIC技術，具有超大Q因子的干涉結構。因為光譜對比度高，所以光譜鑒定非常具有挑戰(zhàn)性，需要采用亞皮米級分辨率。



用例2：陣列波導光柵（AWG）

有多個輸出端口的集成光子器件、基于波分復用光柵的光譜濾波器。同時測量每個通道，并分析中心波長和隔離PDL。



用例3：高PER設備

使用帶反饋功能的快速偏振控制器對高偏振設備進行光譜鑒定——鎖定最大或最小插損。



🔍 需要進行光譜測試的其它器件
復用器/解復用器、梳狀濾波器、波長選擇開關（WSS）、薄膜濾波器（TFF）、增益平坦濾波器

#03使用EXFO光測試解決方案



• 測量時間：3 s（100 nm時典型值）
• IL、RL、PDL（穆勒矩陣法）和光電流測量
• 光采樣分辨率 < 1 pm，動態(tài)范圍 > 70 dB
• 多通道測量功能





#04.使用EXFO自動的PIC測試系統(tǒng)

適用于測試集成光子器件的自動測試系統(tǒng)——

• 晶圓級、單芯片和多芯片對準
• 測試站自動化與分析
• 集成的IL、RL和PDL測量
• 高模塊化、高性能
• 光/電/RF檢測，最多4個檢測頭


PILOT軟件——在單個芯片上邊緣耦合


EXFO的OPAL自動測試站——溝槽邊緣耦合