美國General Photonics推出消光比測試儀
享譽全球的偏振管理、時延管理產(chǎn)品生產(chǎn)商——美國General Photonics公司(
www.generalphotonics.com)近日隆重推出功能強大、性價比極高的消光比測試儀。
該消光比測試儀可實現(xiàn)1260~1650nm全波段測量。您只需更換不同的測試光源,而無需購買多臺消光比測試儀,就能對不同波段的器件進(jìn)行精確測量,一機多用,大大降低了儀器購置成本。
該消光比測試儀具有極高的消光比測試精度、取向角測試精度,能夠測量高達(dá)50dB的消光比,比目前市場通用的消光比測試儀高出10~20dB。該消光比測試儀不僅可以自控測量,還可以實現(xiàn)手動控制測量,更加適用于保偏光纖對軸、保偏跳線制作等領(lǐng)域。
主要應(yīng)用于:
有源器件的保偏尾纖對軸;
保偏跳線、保偏光纖接頭的制作;
保偏光纖熔接點的質(zhì)量檢測;
保偏光纖環(huán)的質(zhì)量檢測;
光纖陀螺的保偏器件篩選;
光纖陀螺的裝配過程檢測;
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