美國(guó) Luna Technologies 公司成立以來，連續(xù)4年(2002～2005)獲得 FROST & SULLIVAN 大獎(jiǎng)。該公司的光背向反射計(jì)（OBR）在光器件、光系統(tǒng)的測(cè)試、診斷過程中，具有無與倫比的優(yōu)越性：無測(cè)試死區(qū)，空間分辨率40um，靈敏度-120dB，能夠探測(cè)到極其微小的損耗變化（如彎曲、斷裂、較差的熔接點(diǎn)等），甚至能夠幫助您發(fā)現(xiàn)器件中尚未被人們所了解的損耗機(jī)制。Luna Technologies 公司的 OBR 能夠?qū)ζ骷�、系統(tǒng)內(nèi)部的缺陷、故障進(jìn)行診斷，使您及時(shí)發(fā)現(xiàn)問題，避免在器件最終檢測(cè)過程中才發(fā)現(xiàn)問題的困擾，幫助您省去產(chǎn)品返工所造成的時(shí)間＆資金浪費(fèi)，大大降低了成本，是無源器件、光模塊產(chǎn)品研制和生產(chǎn)的首選測(cè)量?jī)x器。

優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：
 分辨率高：空間分辨率最高達(dá)10um，可分辨光學(xué)部件的精細(xì)結(jié)構(gòu)；
 靈敏度高：動(dòng)態(tài)范圍70 dB，靈敏度-125 dB；
 測(cè)量范圍長(zhǎng)：有幾種測(cè)量范圍的儀器可供選擇（10、30、70、500米）；
 通過單次掃描，即可快速測(cè)量器件或系統(tǒng)的插入損耗和回?fù)p；
 損耗事件定位：可以通過監(jiān)測(cè)背向散射來確定引起損耗的原因（彎曲、壞熔接點(diǎn)等）；
 深入探測(cè)器件內(nèi)部：使用強(qiáng)大的時(shí)域窗口來顯示器件的內(nèi)部特性；
 能夠跟蹤光網(wǎng)絡(luò)中偏振態(tài)隨光纖長(zhǎng)度方向的變化；
 直觀的圖形顯示界面：可以顯示所有的關(guān)鍵數(shù)據(jù)和曲線。
應(yīng)用:
 主要用于子系統(tǒng)生產(chǎn)和驗(yàn)證，包括光放大器模塊、收發(fā)模塊、放大器模塊的光學(xué)子系統(tǒng)生產(chǎn)，發(fā)送/接受模塊環(huán)路，激光器和調(diào)制器模塊
 單連接點(diǎn)光開關(guān)驗(yàn)證
 組裝和連接有效性和定位管理
 全系統(tǒng)設(shè)計(jì)有效性驗(yàn)證和分析區(qū)別單個(gè)器件、連接頭、光纖、熔接點(diǎn)和其他器件。
 元器件資格檢測(cè)：深入探測(cè)和快速測(cè)試單個(gè)光學(xué)元器件
 光學(xué)系統(tǒng)和模塊的研發(fā)和生產(chǎn)過程中故障定位
 器件和部件的失效分析

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