4/29/2021，近日，昊衡科技推出光通信領(lǐng)域整體測(cè)試方案，昊衡科技OCI系列儀器主要用于無源光器件、硅光芯片、光模塊、平面光波導(dǎo)等光學(xué)鏈路損耗、色散、偏振、延時(shí)、光譜等參數(shù)測(cè)試。產(chǎn)品主要包括OCI-1500/1300高分辨光學(xué)鏈路診斷儀，OCI-T光學(xué)器件測(cè)量?jī)x和OCI-L高精度光纖長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x，以及可測(cè)量傳輸向插損、偏振和色散的新產(chǎn)品OCI-V光矢量分析系統(tǒng)。

   昊衡科技專注于高端光學(xué)測(cè)量與傳感測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)和應(yīng)用解決方案開發(fā)，擁有OFDR核心技術(shù)。產(chǎn)品主要用于無源光器件、硅光芯片、光模塊、平面光波導(dǎo)等光學(xué)鏈路損耗、色散、偏振、延時(shí)等參數(shù)測(cè)量。設(shè)備包括OCI-V光矢量分析系統(tǒng)，OCI1500/1300高分辨光學(xué)鏈路診斷儀，OCI-T光學(xué)器件測(cè)量?jī)x以及OCI-L光纖長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x。昊衡科技致力于為光通信用戶提供更先進(jìn)、更穩(wěn)定、更可靠和更經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案。

 
                      OCI-V 光矢量分析系統(tǒng)

   OCI-V光矢量分析系統(tǒng)通過可調(diào)光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描，單次測(cè)量，即可獲取光器件在寬譜、精細(xì)波長(zhǎng)下的插損(IL)、群延時(shí)(GD)、色散(CD)、偏振相關(guān)損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項(xiàng)光學(xué)參數(shù)。系統(tǒng)采用獨(dú)特光路設(shè)計(jì)以及先進(jìn)算法，實(shí)現(xiàn)自校準(zhǔn)，測(cè)量穩(wěn)定性、重復(fù)性好，操作簡(jiǎn)單，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。OCI-V是一款可靠的光學(xué)多參量測(cè)量工具，在光器件設(shè)計(jì)、研發(fā)、生產(chǎn)全過程中發(fā)揮重要作用，并為改善設(shè)計(jì)、優(yōu)化結(jié)構(gòu)和評(píng)估工藝等提供可靠依據(jù)。OCI-V目前處于新產(chǎn)品市場(chǎng)推廣與導(dǎo)入階段，歡迎行業(yè)客戶聯(lián)系溝通。昊衡科技將提供免費(fèi)試用與專業(yè)的技術(shù)支持。


                      光學(xué)鏈路診斷儀

   OCI1500/1300原理基于光頻域反射（OFDR）技術(shù)，單端連接。單次測(cè)量可實(shí)現(xiàn)從器件到鏈路全范圍分布式測(cè)量。能夠輕松查找并判別光纖鏈路中宏彎、連接點(diǎn)，精確測(cè)量光纖長(zhǎng)度、回?fù)p、插損、光譜和群延時(shí)等光學(xué)參數(shù)。其微米級(jí)空間分辨率、無盲區(qū)、高精度測(cè)量特點(diǎn)對(duì)于光學(xué)鏈路診斷和器件級(jí)別的精細(xì)測(cè)量具有不可替代優(yōu)勢(shì)。
對(duì)于單一測(cè)量需求，比如10m以內(nèi)短鏈路診斷或僅僅關(guān)注光纖長(zhǎng)度或損耗的用戶，他們還推出兩款簡(jiǎn)版設(shè)備。OCI-T測(cè)量長(zhǎng)度10m，空間分辨率達(dá)20μm，能夠以反射和透射兩種模式對(duì)無源器件及硅光子器件插回?fù)p進(jìn)行定量評(píng)估。OCI-L主要用于測(cè)量光纖長(zhǎng)度，比如邁克爾遜干涉儀的延時(shí)或臂差值測(cè)量，精度可達(dá)0.1mm。

   昊衡科技不僅提供標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，還支持全方位軟硬件定制、結(jié)果分析，解決測(cè)試難題。他們將秉持“技術(shù)感知世界”的使命，繼續(xù)專注于先進(jìn)光學(xué)測(cè)量與傳感技術(shù)，砥礪前行，為廣大客戶提供更加精良的產(chǎn)品和更加完善的應(yīng)用解決方案，為實(shí)現(xiàn)“中國(guó)智造”貢獻(xiàn)一份力量。