5/27/2014, 德國(guó)高速光器件提供商VI系統(tǒng)公司今天宣布完成對(duì)V25-850Cxx系列的28Gbps每通道VCSEL器件的可靠性測(cè)試。該系列芯片可以用于4X25Gbps以及下一代的12X25.78Gbps Infiniband EDR互聯(lián),16X25Gbps 400Gbps等應(yīng)用中。
這次可靠性測(cè)試為加速測(cè)試,測(cè)試的產(chǎn)品包括500片芯片,工作溫度最高150攝氏度,采用3種不同的電流密度。
實(shí)驗(yàn)表明,在45攝氏度工作溫度和18kA/平方厘米電流密度下,器件壽命幾乎是無(wú)限的。在高熱沉溫度(30%濕度,密封環(huán)境)下,MTF有效壽命超過35年,最高工作溫度可以達(dá)到90攝氏度。
EZconn Czech為實(shí)驗(yàn)提供了測(cè)試設(shè)備。
實(shí)驗(yàn)報(bào)告可以參考
http://www.v-i-systems.com/_data/Reliability_Report_V25-850_VCSEL_short_version.pdf
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