12/8/2015, 德國高性能半導(dǎo)體光芯片開發(fā)商VI系統(tǒng)公司今天宣布推出針對6寸晶元產(chǎn)品的測試服務(wù)。新的半自動的晶元探測儀可以在制造早期就進(jìn)行電和光性能的測試。測試的參數(shù)包括了光輸出功率，光譜，工作電壓，偏壓，驅(qū)動電流和暗電流等。此外，38GHz模擬工作頻率測試和最高64Gbps的數(shù)字傳輸測試也包括在內(nèi)。再有就是具有支持近場和遠(yuǎn)場分析工具，支持顯微鏡檢查。

VI系統(tǒng)表示這一測試平臺可以在晶元切割前就進(jìn)行性能測試，從而不會影響產(chǎn)出效率，降低了生產(chǎn)成本。VI將在明年2月16日到18日在舊金山舉辦的SPIE光子西部大會上展出這一產(chǎn)品。 展位號4147。