6/29/2016，光纖在線訊：近日，高思光電正式發(fā)布DWDM光譜測試設(shè)備TSPEC 1008 V2.0版本，該設(shè)備基于可調(diào)諧掃描光源的原理，以其高精度、高效率、低成本的優(yōu)勢進(jìn)一步獲得客戶的青睞，率先在業(yè)界領(lǐng)先的器件制造商產(chǎn)線上規(guī)模部署，相關(guān)測試產(chǎn)品已獲得各大系統(tǒng)商的認(rèn)可。

      高性能的光譜測試設(shè)備一直被國外廠商所壟斷，其昂貴的價(jià)格讓DWDM無源器件的生產(chǎn)測試成本居高不下，同時(shí)光譜儀等設(shè)備的測試效率在高精度模式下測試速度相對(duì)較慢，很大程度上限制了光譜的測試效率。高思光電推出的TSPEC 1008很好的解決了這些痛點(diǎn)，波長精度比光譜儀的高精度模式還高出一倍的同時(shí)，掃描周期縮短到1s以內(nèi)，光譜的OSNR性能容限可以達(dá)到45dB以上，在滿足DWDM filter產(chǎn)品測試要求的同時(shí)還可以支持要求更高的多波長合分波器件的測試，如AWG、INTERLEAVER、WSS、tunable Filter等器件。

      在這個(gè)把“帶寬要做得象太平洋一樣寬”的時(shí)代，帶寬資源需求就如海水般無窮無盡，顯然DWDM網(wǎng)絡(luò)進(jìn)一步下沉的趨勢要求性能更高、價(jià)格更低的BIT資源。TSPEC 1008很好的滿足了發(fā)展的需要，為DWDM生產(chǎn)測試提供了很好的低成本解決方案，為端到端降低帶寬成本添磚加瓦，這也是獲得主流廠商認(rèn)可的根本原因所在。