3/1/2019,
一、產(chǎn)品介紹
LUNA公司的OBR4600是光纖背光反射計(jì)系列產(chǎn)品之一。用于光器件/模塊和短距離光網(wǎng)絡(luò)的測試和故障排除。OBR4600超高空間分辨率是基于瑞利背向散射的高探測靈敏度，空間分辨率達(dá)到10微米，零死區(qū)，能夠集成溫度和應(yīng)變測試，最大測試距離達(dá)2km。OBR4600提供卓越的測試結(jié)果和故障排除功能，在短時(shí)間內(nèi)快速獲取所需參數(shù)。




   目前市場上對于損耗的測試，主要有OTDR技術(shù)和基于OFDR技術(shù)的OBR背光反射計(jì)。OTDR技術(shù)的主要特點(diǎn)是測試距離長，從幾十米到幾十公里，常用于光纜或者光網(wǎng)絡(luò)的施工測試，普通OTDR測試設(shè)備的空間分辨率在米級�？臻g分辨率如果在0.1m~0.01m范圍內(nèi)，則需要使用價(jià)格昂貴的高分辨率OTDR測試設(shè)備。在目前的成熟產(chǎn)品中，只有OBR背光反射計(jì)能夠在2公里范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)毫米級空間分辨率，最高可以達(dá)到um級空間分辨率。從技術(shù)角度上分析，只有OFDR技術(shù)才能夠?qū)崿F(xiàn)高空間分辨率的分布式損耗測試。

二、區(qū)別于其他設(shè)備的優(yōu)勢
1、分布式損耗測試

OBR4600背光反射計(jì)能夠測試整個(gè)光路上的損耗和缺陷分布情況，而且使用單端即可進(jìn)行連接測試。常規(guī)損耗測試是對比輸入端和終端輸出兩者的差異，只能獲取總損耗值大小，而不能確定出現(xiàn)損耗的位置，不利于分析和追蹤。而OBR4600的插損測試動態(tài)范圍達(dá)到18dB，分辨率0.05dB，回?fù)p測試動態(tài)范圍是70dB，分辨率0.05dB。其分布式損耗測試技術(shù)獨(dú)具特色。

2、高空間分辨率

OBR4600背光反射計(jì)空間分辨率最高能夠達(dá)到10um，這是任何一臺設(shè)備都不具備的測試能力。其最典型應(yīng)用是在快速接插件中檢測端子質(zhì)量，如上圖所示，接插件出現(xiàn)故障以裂紋為主，mm級以上的斷裂能夠被明顯測試到，而mm級裂紋的損耗往往決定了信號通過的質(zhì)量。在光器件中，如WDM、PLC和spliter；除此之外，進(jìn)行損耗區(qū)域放大之后，可以根據(jù)損耗特性分布情況，推斷故障發(fā)生的類型。
而在硅光研究領(lǐng)域，OBR4600更是進(jìn)行測試必不可少的設(shè)備，其測試性能得到了Blumenthal and Bowers Optoelectronics Research Groups的認(rèn)可，并在硅光器件上進(jìn)行了測試應(yīng)用，國內(nèi)上海中科院在對硅光的研究中，也認(rèn)可該設(shè)備的高空間分辨率性能。


3、兼容多模器件測試

除了對單模光纖進(jìn)行測試之外，OBR4600也可以用于多模光纖的性能測試，對于通訊測試具有重要意義。

4、可用于產(chǎn)線自動化測試

背光反射計(jì)軟件人機(jī)交互界面簡單，測試結(jié)果存儲方便，而在生產(chǎn)線測試應(yīng)用中，可自動設(shè)置測試位置和閾值檢測標(biāo)準(zhǔn)，極大提高工作效率，避免人工操作帶來的誤差。

三、技術(shù)特征
背光反射計(jì)主要具有以下的技術(shù)特征；
1. 定位并診斷光纖的彎曲、熔接、連接和斷裂等各類故障；
2. 定位短距離光網(wǎng)絡(luò)中所有存在插入損耗的位置；
3. 檢查器件內(nèi)部評估每一個(gè)連接處的RL和IL；
4. 在7s之內(nèi)，能夠以10微米的分辨率測量30m的光纖；
5. 最高以3Hz的連續(xù)頻率測量1m的光路；
6. 測試和排除短距離光網(wǎng)絡(luò)故障（<2km）；
7. 光纖組件的自動檢驗(yàn)；
8. 監(jiān)測光網(wǎng)絡(luò)或光模塊內(nèi)部溫度或應(yīng)變的分布情況。

背光反射計(jì)的主要性能優(yōu)勢如下所示：
1. -130dB的靈敏度；
2. 70dB的動態(tài)范圍；
3. 2km測量范圍內(nèi)零死區(qū)；
4. 小于0.05dB的插損分辨率。


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